半導体用語集

「L」から始まる半導体用語

LSI[エルエスアイ,Large Scale Integration]

LSI(Large Scale Integration)とは、大規模集積回路のことで、数千から数万のトランジスタを一つのシリコンチップ上に集積した電子回路を指す。

1960年代後半から1970年代にかけて登場したこの技術は、コンピュータ、通信機器、家電製品など、多岐にわたる電子デバイスの小型化、高性能化、低コスト化を可能にした人類史でも極めて大きな発明だ。

LSIの歴史と発展

LSIの登場以前は、SSI(Small Scale Integration)やMSI(Medium Scale Integration)といった技術が主流でしたが、これらは数十から数百のトランジスタしか集積できなかった。

しかしながら、LSIの開発により、集積度は飛躍的に向上し、より複雑な機能を持つ電子回路の実現が可能となった。

LSIの発展はその後も続き、VLSI(Very Large Scale Integration)へと進化し、現在では数百万、数十億のトランジスタを集積できるようになり、電化製品の高性能化、通信技術の加速的な発展に寄与し、人類の便利な生活を支える基盤となった。

LSIの特徴

  • 高集積度: 大量のトランジスタやその他のコンポーネントを一つのチップ上に集積することで、小型で高機能な電子デバイスの製造が可能。
  • 高性能: トランジスタ間の距離が短縮されるため、信号伝達の遅延が減少し、処理速度が向上。
  • 低消費電力: コンポーネントが密集しているため、必要な電力が減少し、効率的な動作が可能。
  • 低コスト: 大量生産により、一つあたりのコンポーネントコストが低下。

LSIの応用

LSI技術は、コンピュータのCPUやGPU、メモリデバイス(DRAM、フラッシュメモリなど)、通信チップ、家電製品(テレビ、冷蔵庫など)の制御回路、自動車のエンジン制御ユニット(ECU)など、幅広い分野で利用されている。

技術的課題と将来性

LSI技術の発展には、微細化技術の進歩が不可欠ですが、物理的な限界や製造コストの増大、消費電力の管理など、課題が存在する。

これらの課題に対応するため、新しい材料の開発、3D集積技術、低消費電力設計などの研究が進められている。

また、AIやIoT(Internet of Things)の普及により、LSIを含む半導体技術への需要は今後も増加すると予想されている。

LOCOS[ロコス, Local Oxidation of Silicon]

LOCOS(Local Oxidation of Silicon)は、シリコン基板上に局所的に酸化膜を形成することにより、トランジスタなどの半導体デバイスのアクティブ領域と非アクティブ領域を分離する古典的な半導体プロセス技術だ。

1960年代後半に開発されたこの技術は、長年にわたりMOS(Metal-Oxide-Semiconductor)トランジスタの製造における基本的なアイソレーション(絶縁)技術として使用されてきた。

LOCOSプロセスの概要

  1. ナイトライド層の堆積: シリコン基板の表面にシリコンナイトライド(Si3N4)層を堆積させ、のちの酸化プロセス中にシリコンが酸化されるのを防ぐマスクとして機能させる。
  2. フォトリソグラフィ: フォトリソグラフィ技術を用いて、ナイトライド層上にパターンを形成し、酸化したい領域を露出させる。
  3. 酸化: 露出されたシリコン領域を高温の酸化環境(通常は湿式酸化)にさらして、シリコン酸化膜(SiO2)の厚い酸化層(鳥の羽根のような形状をした「フィールド酸化膜」)を形成させる。このとき、シリコンが露出している領域のみ酸化し、ナイトライド層がある部分は酸化されない。ここがLOCOSの一番大事なポイントだ。
  4. ナイトライド層の除去: 酸化プロセス後、ナイトライド層を除去します。

LOCOSの特徴と利点

  • シンプルさ: LOCOSプロセスは比較的単純で、少ないプロセスステップで実装できる。
  • 堅牢性: 酸化層は非常に堅牢で、優れた電気的絶縁特性を提供する。
  • コスト効率: 追加の材料や複雑なプロセスが不要なため、コスト効率が良い。

LOCOSの欠点と挑戦

  • 鳥の羽根(Bird’s Beak,バーズビーク)効果: LOCOSプロセスは、酸化層の端に特有の「鳥の羽根」と呼ばれる領域が生じる。この領域はアクティブ領域のスペースを無駄にし、微細加工におけるスケーリングの障害となる。
  • 非均一な酸化: 窒化膜マスクの下でもわずかに酸化が進行するため、デバイスの均一性を損なうリスクがある。
  • 限られたスケーリング能力: 半導体デバイスがより小型化されるにつれて、鳥の羽根効果やプロセスの均一性の問題がより顕著になり、LOCOSの適用範囲は限定されてきた。

現代の代替技術

LOCOSの限界を克服するために、STI(Shallow Trench Isolation)などの新しいアイソレーション技術が開発された。

STIはより深いトレンチをエッチングして酸化物で埋めることにより、より小さいデバイスピッチと高い集積度を実現し、現代の微細加工技術に適したアイソレーション方法となった。

LOCOSは、そのシンプルさと堅牢性から、特定のアプリケーションや古典的なプロセス設計で依然として使用されることがあるが、半導体技術の進歩に伴い、より先進的なアイソレーション技術にその地位を譲ることが多くなっている。

LP-CVD

LP-CVD(Low Pressure Chemical Vapor Deposition)は、半導体製造プロセスにおいて薄膜材料を基板上に堆積させるための一般的な技術だ。

この方法は、化学気相成長(CVD)の一種であり、低圧環境下での操作が特徴である。

LP-CVDは、シリコン酸化膜(SiO2)、シリコン窒化膜(Si3N4)、ポリシリコン(多結晶Si)など、多くの異なる材料の膜を均一かつ高品質に成長させるのに適している。

基本原理

LP-CVDは、反応ガスを真空チャンバー内の基板上に供給し、化学反応を促進させて薄膜を成長させるプロセスだ。

低圧環境は、ガスの平均自由行程を増加させ、ガス分子が基板表面に到達する前に他の分子と衝突する可能性を減少させる。

これにより、薄膜の均一性と品質が向上する。

プロセスの特徴

  • 均一性: LP-CVDによって成長される薄膜は、基板全体にわたって非常に均一になる。これは、特に大面積の半導体基板を扱う際に重要となる。
  • 純度と品質: 低圧環境は、不純物の混入を最小限に抑え、高純度の薄膜を成長させることを可能にする。
  • ステップカバレッジ: LP-CVDは、基板上の隆起部や凹部にも薄膜を均一に堆積させる能力があり、優れたステップカバレッジを提供する。
  • 温度制御: 成長温度は材料や所望の膜の特性によって最適化され、一般的には数百°Cの範囲で制御される。

応用

LP-CVDは、絶縁膜、ゲート酸化膜、拡散バリア膜、抗反射膜など、半導体デバイスの製造におけるさまざまな用途に使用される。

また、MEMS(マイクロエレクトロメカニカルシステム)技術や太陽電池の製造にも応用されている重要な技術だ。

技術的課題

LP-CVDプロセスは高品質の薄膜を提供する一方で、プロセス温度や真空システムの維持に関連するエネルギーコストが高いという課題がある。

また、特定の材料やプロセス条件下では、装置内の不純物の蓄積や粒子の発生が問題となることがある。

LPE[液相エピタキシー,Liquid Phase Epitaxy]

液相エピタキシー(Liquid Phase Epitaxy、LPE)は、半導体材料におけるエピタキシャル層(結晶層)を成長させるための技術の一つだ。

エピタキシャル層とは、基板に対して結晶方向が揃った薄い膜のことを指し、半導体デバイスの性能を向上させるために使用される。

LPEは、特にLED(発光ダイオード)、レーザーダイオード、フォトディテクターなどの光電子デバイスの製造に適したプロセス技術だ。

LPEの基本原理

LPEは、溶解した半導体材料が溶液から基板上に堆積し、結晶化することによってエピタキシャル層を形成するプロセスだ。

この方法では、通常、高純度の半導体材料を溶剤に溶解し、この溶液を特定の温度まで加熱してから基板に接触させる。

温度を徐々に下げることにより、溶液の飽和度が変化し、溶質が基板上に結晶化して堆積する。

LPEのプロセス

  1. 準備: 高純度の半導体材料(例:ガリウム、インジウムなど)を選択し、これを適切な溶剤(例:ガリウムの場合は金属ガリウム自体が溶剤として機能する)で溶解させる。
  2. 加熱: 溶液を加熱して溶質を完全に溶解させ、溶液を飽和状態にする。
  3. エピタキシャル成長: 溶液を冷却する過程で、溶質の飽和度が超過し、基板上に結晶層が成長し始める。この時、基板の結晶構造に合わせて結晶層が成長する。
  4. 冷却: エピタキシャル層の成長が完了したら、溶液と基板をさらに冷却してプロセスを終了する。

LPEの特徴と利点

  • 高品質なエピタキシャル層: LPEによって成長されたエピタキシャル層は、高い結晶品質と純度を持つ。
  • 低い欠陥密度: 基板と同じ結晶構造を持つため、欠陥密度が非常に低く、デバイスの性能を向上させる。
  • 材料の選択性: 様々な半導体材料のエピタキシャル層を成長させることができ、複数の材料を使ったヘテロ構造の形成にも対応できる。

LPEの限界と課題

  • 限られた成長速度: LPEプロセスの成長速度は比較的遅いため、生産性に課題がある。
  • 厚みの均一性: 成長するエピタキシャル層の厚みの均一性を制御することが難しい場合がある。
  • スケールアップの難しさ: 大面積の基板への均一なエピタキシャル層の成長は、技術的にチャレンジング。

LPE技術は、特定のアプリケーションにおいては他のエピタキシャル成長技術(例:気相エピタキシー(VPE)、分子線エピタキシー(MBE))に比べて好まれる場合があるが、用途に応じて最適な成長技術を選択するべきだ。