


第8回 トレーサビリティとは?──「このチップはどこで作られたか」を追う仕組み
2026-03-31 semi-connect編集室 はじめに 「この不具合チップは、いつ、どのウェハから生まれたのか?」「同じ材料を使った製品は、今どこにあるのか?」 こうした製造履歴を一点 …
第7回 SPC(統計的工程管理)とは?──データで守る半導体の品質
2026-03-31 semi-connect編集室 はじめに 半導体の製造現場は、まさに「データの宝庫」です。ウェハの膜厚、回路のパターン幅、電気特性……毎日膨大な数値が生成されます。 し …
第6回 FMEAとは何か?──半導体設計・製造に活かす「故障の予防術」
2026-03-31 semi-connect編集室 はじめに IATF 16949の「コア・ツール」の中でも、品質管理の要となるのがFMEAです。漢字で書くと「故障モード影響解析」。一見難し …
WIP (Work In Progress) トラッキングとは?
2025-11-24 semi-connect編集室 WIP (Work In Progress) トラッキングは、MESの中で最も基本的かつ重要な機能です。日本語では「仕掛品(しかかりひん)管 …
半導体工場におけるMESの役割
2025-11-24 semi-connect編集室 半導体工場におけるMES (Manufacturing Execution System:製造実行システム) は、工場の「脳」や「司令塔」にあたる極めて重要なシステムです。 半導 …






